- [技術(shù)文章]IC芯片行業(yè)中溫度沖擊試驗(yàn)箱的介紹2020年11月02日 08:55
- 在IC芯片行業(yè)，溫度沖擊試驗(yàn)是評(píng)估IC產(chǎn)品中具有不同熱膨脹系數(shù)的金屬之間的界面的接觸良率。方法是通過(guò)循環(huán)流動(dòng)的液體從高溫到低溫重復(fù)變化。在快速溫度變化的過(guò)程中（比如日夜溫差，突然下雨，四季變化等），芯片會(huì)出現(xiàn)熱疲勞而失效，其能快速驗(yàn)證芯片封裝材料、制程工藝等瑕疵。
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- [技術(shù)文章]IC芯片等產(chǎn)品高溫測(cè)試失效原因分析2020年06月12日 10:28
- 該產(chǎn)品的高溫失效問(wèn)題，與COB各材料都有著密切的關(guān)系: PCB、IC、邦定線、黑膠。但最主要的原因是在IC質(zhì)量有缺陷的前提下，由于黑膠、邦定線、PCB各部分的熱膨脹系數(shù)(CTE)，在高溫條件下，黑膠可能拉動(dòng)邦定線，導(dǎo)致接觸不良使得IC功能喪失。
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