一、總則
溫度循環(huán)試驗應按照 GB/T 2423.22-2012 的試驗 Nb: “規(guī)定變化速率的溫度變化”和下述規(guī)定 進行。二、試驗要求
試驗應在滿足 GB/T 2424.5—2006 要求的試驗箱內進行。試驗溫度見表 1，溫度容差為士2 K。表1 溫度循環(huán)試驗的試驗溫度
|
聲稱值 |
最大試驗溫度（℃） |
最小試驗溫度（℃） |
|
僅有t |
t最大值 |
t最大值-50 |
|
僅有最高和低工作溫度 |
最高工作溫度 |
最低工作溫度 |
|
既有t又有最高和最低工作溫度 |
最高工作溫度 |
最低工作溫度 |
|
無溫度聲稱值 |
40 |
-10 |
如制造商提供的文件能夠證明 LED 燈具所用的 LED 模塊已符合 IEC 62717:2014 中 10.3.2 的要 求，則溫度循環(huán)試驗的循環(huán)次數(shù)可減少為 10 次。
三、試驗程序
單次循環(huán)的試驗程序如下：a）LED 燈具在最大試驗溫度環(huán)境下達到穩(wěn)定，然后斷開電源，溫度循環(huán)試驗箱內的環(huán)境溫度以（10±2） K/min 的速率降低到最小試驗溫度。
b）LED 燈具在最小試驗溫度下保持斷開電源 50min，然后進行10 次 10s 開、50s 關的循環(huán)。
c） LED 燈具接通電源。
d）溫度循環(huán)試驗箱內的環(huán)境溫度以（10±2）K/min 的速率升高到最大試驗溫度。
e）LED 燈具在最大試驗溫度下保持接通電源 50 min,然后進行 10 次 10 s 開、50s 關的循環(huán)。
四、合格判定
試驗后，樣品的標貼應無開裂、卷曲或脫落，樣品無明顯的損壞，且按 GB/T 9468-2008 規(guī)定測得的光通量相對于初始光通量的變化不應超過 10%。
下一篇：半導體高溫儲存試驗測試標準上一篇：已經(jīng)是第一篇了
客服微信